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薄膜电阻测量仪操作步骤及注意事项

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    2024-11-21 08:49
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    发表于 昨天 09:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
      使用薄膜电阻测量仪需遵循规范流程,涵盖样品准备、仪器连接、参数设置、测量操作及后续处理等环节,同时需注意环境控制与安全事项,具体操作步骤及注意事项如下:
      一、操作步骤
      1.样品准备
      ①表面处理:确保薄膜样品表面平整、无氧化层、油污或灰尘。必要时用酒精或超声波清洗,避免污染物干扰测量结果。
      ②厚度测量:若需计算电阻率,需准确测量薄膜厚度(块状或薄膜样品)或记录横截面积(棒状样品)。
      2.仪器连接
      ①探头检查:连接测试探头电缆与主机,检查探针是否完好(如碳化钨探针无断裂、氧化)。
      ②线路确认:确保恒流源、电压表和接地线正常工作,避免短路或接触不良。
      3.仪器预热与参数设置
      ①预热:接通电源,开启主机开关,预热15分钟至电路稳定。
      ②模式选择:根据需求选择测试模式(如电阻率、方阻或薄层电阻)。
      ③探针间距调整:根据样品形状调整探针间距(常规间距1-2mm),确保四探针均匀接触样品表面。
      ④压力控制:通过弹簧装置或高度调节旋钮施加适中压力,避免划伤样品或接触不良。
      ⑤电流设置:根据材料导电性设置恒流源(如半导体用0.5-1mA,金属用1-2mA)。
      ⑥修正系数输入:输入几何修正系数或选择预设模型(薄片/三维样品)。
      4.测量操作
      ①启动恒流源:注入电流并测量内侧两探针的电压差。
      ②数据观察:观察数据稳定性,重复测量3次取平均值以减少误差。
      ③结果读取:仪器自动计算电阻率并直接显示结果。复杂形状样品需结合有限元模拟修正系数或查表校准。
      5.后续处理
      ①精度验证:使用标准电阻片验证仪器精度,调整参数直至误差<1%。
      ②探针维护:定期检查探针磨损情况,更换断针时确保铜片与绝缘片按原顺序排列。
      ③清洁与存放:测试后关闭电源,断开探头电缆并存放在干燥环境中。清洁探针表面残留物,避免氧化影响导电性。
      二、注意事项
      1.环境控制
      ①温度与湿度:实验室温度建议控制在25±2°C,湿度<60%,以保障数据一致性。
      ②静电干扰:高阻材料测量时需延长稳定时间,减少环境静电干扰。
      2.安全事项
      ①电流控制:避免电流过大导致样品发热(影响电阻率真实性)或过小导致信噪比不足。
      ②操作规范:探针与样品需垂直接触,避免倾斜导致接触面积不均。
      3.特殊样品处理
      ①复杂形状样品:需结合有限元模拟修正系数或查表校准,以提高测量准确性。
      ②真空环境测量:若需在真空环境中测量,需确保真空室密闭性,并按照真空操作规程进行。
      点击这里了解更多“薄膜电阻测量仪”信息:https://www.dymek.com.cn/Products-38040040.html



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