德国新帕泰克有限公司于2004年在中国成立代表处，目前代表处总部位于苏州工业园区，为长三角地区的客户提供更便捷的服务。同时，在北京设有当地办公室，以服务华北区域。此外，在广州、青岛、南京、成都、西安和济南等地设有当地的销售与售后工程师，为客户提供专业支持。 网站：https://www.sympatec.com.cn/；电话：0512-66607566；传真：0512-66607599。 公司自进入中国市场以来，在国内已经累积近2000台仪器的成功安装案例，主要应用于化工、**、食品、电池、磁材、水泥、非金属矿、增材、食品、陶瓷、冶金、地质研究等行业。 新帕泰克作为专业粒度粒形分析仪生产商，在国内提供售前技术交流、应用咨询、样品测试、技术服务和售后支持等一体化服务，致力于为客户提供高质量的仪器和专业的解决方案，以满足不同行业的需求。 光学成像是粒形分析最常用的方法之一，基于测试过程中颗粒状态的不同，通常分为静态与动态图像分析两种方法。动态图像法（DIA），测试过程中颗粒处于运动状态。德国新帕泰克QICPIC采用动态图像法技术，系统搭载自动分散装置，用于分散并输送被检颗粒体系，样品经由分散系统进行充分分散后通过测量区，并由快速成像系统进行连续采集，几分钟内即可测试几万甚至上千万个颗粒的信息。 高速动态图像分析仪QICPIC突破性优势： 1.测试范围：0.55-33,792 μm 2.动态图像法测试：结合高效分散系统，利用高速摄像头拍摄运动中的分散颗粒流，通过专业分析软件对每个颗粒的粒度和粒形同时进行精确测量和分析。 3.模块化设计:可结合多种分散系统，满足不同材料的测试需求 4.多样化粒度、粒形评估模式：可以从多个维度精确描述半导体材料颗粒的大小和形状特征。 粒度评估模式：EQPC径、Feret径、CHORD径等 粒形评估模式：球形度、宽长比、凸度、圆度等 5.颗粒图库功能：可使用特定过滤条件查询超规颗粒（如EQPC径 > 100μm的颗粒），追溯其产生的原因，及时优化工艺参数。 6.直观数据呈现：提供粒度、粒形分布图、散点图、表格及详细的图文报告；支持导出颗粒图像、粒径和粒形信息，以及测试过程记录的颗粒流录像。 7.与其他方法具有可比性：检测结果与传统筛分法、激光衍射法具有良好的对比性，为企业提供了可靠的参考和验证手段。 动态粒度粒形(图像)分析仪可以对颗粒材料的粒度与粒形同时进行分析和评估，为各种材料的研发和生产提供全面的支持。
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