抗干扰介质损耗测试仪怎么用

宇光仪器

抗干扰介质损耗测试仪用于测量高压电气设备（如变压器、套管、互感器等）的介质损耗因数（tanδ）和电容量（Cx），评估其绝缘性能。以下为具体操作步骤：
​​1. 测试前准备​​
​​检查仪器​​：确认测试仪外观无损坏，配件（如高压测试线、接地线、电源线）齐全。
​​接线​​：
​​被测设备​​：将被测设备的接地端可靠接地，高压端接测试仪的高压输出端（Cx），低压端接屏蔽端（E）或接地。
​​抗干扰连接​​：若现场存在强电磁干扰（如电场、磁场），需使用屏蔽线，并确保测试仪接地良好，必要时采用倒相法或移相法抗干扰。
​​开机预热​​：接通电源，开机预热5~10分钟，确保仪器稳定。
​​2. 参数设置​​
​​测试电压​​：根据被测设备类型选择合适测试电压（如10kV、5kV等）。
​​测量模式​​：选择正接法（Cx接高压，E接地）或反接法（Cx接地，高压接E），视被测设备结构而定。
​​抗干扰模式​​：若干扰较强，可选择“抗干扰”或“自动滤波”模式。
​​3. 测试操作​​
​​加压测试​​：设置好参数后，启动测试，仪器自动升压并测量tanδ和Cx值。
​​数据读取​​：待数值稳定后，记录tanδ（%）和Cx（pF/nF/μF），对比标准值判断绝缘状态。
​​4. 测试后处理​​
​​降压断电​​：测试完成后，仪器自动或手动降压，关闭电源。
​​拆线整理​​：先断开高压端，再拆其他连线，整理测试线并妥善存放仪器。
​​注意事项​​：测试时确保安全距离，避免误触高压；若tanδ异常升高，可能预示绝缘劣化，需进一步诊断。

银河旅人

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