XRF岩屑元素分析仪

小鹊被打扁了

　　GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井是目前岩屑分析中速的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位.因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
　　测量内容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
　　使用用途：油气开采过程中的岩屑录井检测
　　产品特点
　　性能
　　高性能
　　优选进口X射线管以及高性能探测器，确保长期的稳定性以及准确度。
　　快响应
　　相对于传统的实验室化验等方式，光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。
　　长寿命
　　无需耗材，寿命最长可达5-8年，综合使用成本更低。
　　便携性
　　相对于传统类的实验室设备，我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备，方便在作业现场进行便携使用。
　　为了更好的让客户在野外操作，设备还需抗震和牢固，我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱，让运输更安全。
　　其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工，从来稳定性牢固性更好。
　　准确性
　　仪器集成了管压检测、温度检测，实时监控腔内的真空压力和温度，确保检测的精度。
　　真空腔内置过滤隔离装置，仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子，导致污染损坏。
　　内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态，提供检测的准确度。
　　技术指标

分析元素	Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
探测下限	Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
分析范围	0.0001％-99%
能量范围	≤±1%F.S
稳定性	≤±1%F.S
输出信号	RS-232&USB数字输出
配件	+笔记本电脑+压片机
外壳尺寸	355*250*380(长*宽*高)
重量	36Kg

　　*具体量程可能会有细微偏差。
　　*工作在温度25℃和1013mbar测试数据。
　　技术原理
　　技术原理
　　利用初级X射线光子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析;同时样品受激发以后发射某一元素的特征X射线强度跟元素在样品中的含量有关，因此可以对元素进行定量分析。
　　光学结构
　　分析仪由如下光学技术平台构成，该技术平台由X射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。X射线管发出的光直接照射在待测样品，激发待测物质中的原子，使之产生荧光，被探测器接收。通过对荧光谱线进行分析，可以分析出待测样品中的元素成分和含量。
　　金属元素的光谱
　　不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
　　岩屑成分
　　可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。
　　自动稳谱，消除谱峰水可载舟漂移影响，精确度达98%以上。
　　集成大量数据库，并实时更新，目前可以识别岩屑成分多达上百种。
　　应用领域
　　GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。
　　产品主要用于以下场合：
　　● 油气钻井岩屑录井;
　　● 物探岩石检测等。

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