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x射线光电子能谱仪可以测什么

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发表于 昨天 11:58 | 显示全部楼层 |阅读模式
X射线光电子能谱仪(XPS)是一种强大的表面分析技术,可测量材料表面以下约1-10纳米的化学信息。其核心功能包括:
元素组成分析:通过检测光电子动能,确定表面元素种类(除氢、氦外),灵敏度达0.1%原子浓度。
化学态鉴定:根据元素化学环境导致的结合能偏移(如氧化态、配位状态),区分金属、氧化物、硫化物等形态。
定量分析:通过光电子峰强度计算元素相对含量,支持半定量或定量分析。
深度剖析:结合离子束溅射,逐层剥离表面,获取元素或化学态随深度的分布。
污染与腐蚀研究:检测表面吸附物、氧化层或污染物,评估材料耐蚀性。
应用领域涵盖材料科学(如催化剂、涂层)、半导体(界面反应)、能源(电池电极降解)及生物医学(生物材料表面修饰)等,是研究表面化学性质的关键工具。

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