x射线荧光光谱法原理

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X射线荧光光谱法（XRF）是一种用于元素分析的技术，其原理基于X射线荧光现象。当高能X射线照射到样品时，会激发样品中的原子，使其内层电子跃迁到外层，产生特征X射线荧光。这些荧光的波长或能量与样品中元素的种类和含量有关。通过测量荧光的波长或能量，可以确定样品中元素的种类；通过测量荧光的强度，可以确定元素的含量。XRF具有非破坏性、快速、灵敏度高等优点，广泛应用于地质、环境、材料等领域。