光学轮廓仪的功能

米勒仪表

光学轮廓仪是一种非接触式测量仪器，具有多种重要功能：  
表面粗糙度测量  
可精确测量各种材料表面的粗糙度参数，如Ra（算术平均粗糙度）、Rz（轮廓最大高度）等，能够快速获取微观不平整度信息。  
形貌测量  
能够对物体表面的三维形貌进行重构和测量，可精确测量物体的尺寸、形状以及表面的微观结构，如台阶的高度、斜坡角度、沟槽的深度和宽度、焊缝的宽度和高度等。  
薄膜厚度测量  
可用于测量透明或半透明薄膜的厚度，如半导体制造中的薄膜沉积层、光学镀膜以及其他需要精确控制薄膜厚度的领域。  
缺陷检测  
能够检测物体表面的缺陷，划如痕、裂纹、孔洞、凹坑等，通过对表面形貌的详细分析，帮助用户快速识别和定位缺陷位置，确定缺陷的尺寸和深度。  
轮廓分析  
可对物体的边缘轮廓进行分析，测量物体的边界形状、边缘角度、圆角半径等参数，对于机械加工、电子制造等领域中的零件形状控制具有重要意义。  
微观结构分析  
能观察够和分析材料表面的微观结构，如晶粒尺寸、相界面、晶体取向等，为材料科学研究提供重要的微观结构信息。

劳资蜀道山

回复太及时了，正好能解决我的问题。