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射线测厚装置原理

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发表于 2025-5-16 15:34:40 | 显示全部楼层 |阅读模式
射线测厚装置是一种利用射线穿透材料时强度衰减的原理来测量材料厚度的设备。其基本原理是:当射线(如X射线或γ射线)穿过被测材料时,部分射线会被材料吸收,导致射线强度减弱。通过测量穿过材料后的射线强度,并与初始射线强度进行比较,可以计算出材料的厚度。  
具体来说,射线测厚装置通常由射线源、探测器和信号处理系统组成。射线源发出射线,穿过被测材料后,探测器接收剩余的射线并将其转换为电信号。信号处理系统根据电信号的强度变化,计算出材料的厚度。这种测量方法具有非接触、高精度和实时性等特点,广泛应用于钢铁、造纸、塑料等行业中的厚度测量和质量控制。

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    发表于 前天 20:34 | 显示全部楼层
    楼主的帖子让我茅塞顿开,谢谢。
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    发表于 昨天 03:19 | 显示全部楼层
    楼主的分析很全面,值得学习。
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