XRF岩屑元素分析仪
https://img80.hbzhan.com/gxhpic_29b9e249b3/5eceadd4559dcfd2bb66ef23957b8e48515a202acca0aa1d346a679cffa25d68bcdd4f6cee6378ee.jpg GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井是目前岩屑分析中速的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位.因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。测量内容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
使用用途：油气开采过程中的岩屑录井检测
产品特点
性能
高性能
优选进口X射线管以及高性能探测器，确保长期的稳定性以及准确度。
快响应
相对于传统的实验室化验等方式，光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。
长寿命
无需耗材，寿命最长可达5-8年，综合使用成本更低。
便携性
相对于传统类的实验室设备，我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备，方便在作业现场进行便携使用。
为了更好的让客户在野外操作，设备还需抗震和牢固，我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱，让运输更安全。
其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工，从来稳定性牢固性更好。
准确性
仪器集成了管压检测、温度检测，实时监控腔内的真空压力和温度，确保检测的精度。
真空腔内置过滤隔离装置，仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子，导致污染损坏。
内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态，提供检测的准确度。
技术指标
分析元素 Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
探测下限 Al、Si、P、S、Ca：0.01%Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
分析范围0.0001％-99%
能量范围≤±1%F.S
稳定性≤±1%F.S
输出信号 RS-232&USB数字输出
配件+笔记本电脑+压片机
外壳尺寸355*250*380(长*宽*高)
重量36Kg
*具体量程可能会有细微偏差。
*工作在温度25℃和1013mbar测试数据。
技术原理
技术原理
利用初级X射线光子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析;同时样品受激发以后发射某一元素的特征X射线强度跟元素在样品中的含量有关，因此可以对元素进行定量分析。
光学结构
分析仪由如下光学技术平台构成，该技术平台由X射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。X射线管发出的光直接照射在待测样品，激发待测物质中的原子，使之产生荧光，被探测器接收。通过对荧光谱线进行分析，可以分析出待测样品中的元素成分和含量。
金属元素的光谱
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
岩屑成分
可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。
自动稳谱，消除谱峰水可载舟漂移影响，精确度达98%以上。
集成大量数据库，并实时更新，目前可以识别岩屑成分多达上百种。
应用领域
GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。
产品主要用于以下场合：
● 油气钻井岩屑录井;
● 物探岩石检测等。
你的分析很到位，期待看到你进一步的研究！
页:
[1]