原子力显微镜的工作模式
原子力显微镜（AFM）主要有以下几种工作模式，每种模式适用于不同类型的样品和测量需求：1. 接触模式
在这种模式下，探针与样品表面保持持续接触。
探针通过接触力与表面相互作用，悬臂梁会弯曲或偏移，这些变化用来记录表面的形貌。
适用于硬质或平坦的样品，提供较高的分辨率，但可能会对软性样品造成损伤。
2. 非接触模式 探针与样品表面保持一定距离，不直接接触，而是通过表面间的长程力（如范德华力）进行相互作用。
适用于软性或敏感的样品，因为探针不接触样品表面，避免了物理损伤。
该模式的分辨率较低，但能够对样品表面的细节进行更温和的观察。
3. 轻敲模式
探针在接触和非接触之间交替振动，与样品表面进行轻微的接触。
这种模式结合了接触模式和非接触模式的优点，适用于软性样品，能够提供较好的分辨率并减少表面损伤。
常用于测量材料的表面形貌和力学特性，特别是软材料和生物样品。
4. 力距离曲线模式
该模式下，探针与样品表面逐渐接近，记录探针与样品之间的力与距离变化关系。
适用于测量样品的力学性质，如弹性模量、粘附力等。
这些不同的模式使得AFM能够根据不同样品的需求选择合适的操作方式，从而获得所需的表面形貌和物理特性信息。
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